Figure 25 – Wafer indication and measurement points for the thickness variation for five points

Note 1 to entry: When present, the secondary flat indicates wafer polarity and can serve to distinguish different wafer cuts.

Figure 25 – Indication de la plaquette et points de mesure de variation de l’épaisseur pour cinq points

Note 1 à l’article: S’il est présent, le plan secondaire indique la polarité de la plaquette et peut permettre de distinguer les différentes découpes de plaquette.