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Area Lighting / Radiometric, photometric and colorimetric measurements: physical detectors

IEV ref 845-25-114

en
sampling aperture
area of the reference plane on which measurements are made

Note 1 to entry: The sampling aperture is delimited by the area illuminated, or by the area over which the receiver senses flux, whichever is smaller. If the illuminated area is the larger, the area measured is said to be "overfilled"; if it is the smaller, the area measured is said to be "underfilled".


fr
ouverture d'échantillonnage, f
aire du plan de référence sur laquelle sont effectués les mesurages

Note 1 à l'article: L'ouverture d'échantillonnage est délimitée par l'aire éclairée, ou par l'aire sur laquelle le récepteur détecte le flux, selon l'aire la plus petite. Si l'aire éclairée est la plus grande, l'aire mesurée est considérée comme "surremplie"; si l'aire éclairée est la plus petite, l'aire mesurée est considérée comme "sous-remplie".


ar
فتحة التجريب

de
Abtastöffnung, f

it
apertura di campionamento

ko
표본 개구

ja
サンプリングアパーチャ

pl
płaszczyzna pomiarowa, f

pt
abertura de amostragem

zh
采样孔径

Publication date: 2020-12
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