IEVref:
815-22-07
ID:
Language:
fr
Status:
Standard
Term:
modèle de Bean, m
Synonym1:
Synonym2:
Synonym3:
Definition:
modèle d'état critique
qui définit par hypothèse que la
densité de courant critique
J
c
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est constante et indépendante de l’induction magnétique
B
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Note 1 à l’article: Cet article était numéroté 815-12-07 dans l’IEC 60050-815:2015.
Publication
date
:
Source
Internal notes:
CO remarks:
TC/SC remarks:
VT remarks:
Domain1:
Domain2:
Domain3:
Domain4:
Domain5:
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Note 1 à l’article: Cet article était numéroté 815-12-07 dans l’IEC 60050-815:2015.