IEVref:815-22-07ID:
Language:frStatus: Standard
Term: modèle de Bean, m
Synonym1:
Synonym2:
Synonym3:
Definition: modèle d'état critique qui définit par hypothèse que la densité de courant critique J c MathType@MTEF@5@5@+= feaagKart1ev2aqatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbbjxAHX garuavP1wzZbItLDhis9wBH5garmWu51MyVXgarqqtubsr4rNCHbGe aGqipG0dh9qqWrVepG0dbbL8F4rqqrVepeea0xe9LqFf0xc9q8qqaq Fn0lXdHiVcFbIOFHK8Feea0dXdar=Jb9hs0dXdHuk9fr=xfr=xfrpe WZqaaeaaciWacmGadaGadiaabaGaaqaaaOqaaiaadQeadaWgaaWcba accaGaa83yaaqabaaaaa@373A@ est constante et indépendante de l’induction magnétique B MathType@MTEF@5@5@+= feaagKart1ev2aqatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbbjxAHX garuavP1wzZbItLDhis9wBH5garmWu51MyVXgarqqtubsr4rNCHbGe aGqipG0dh9qqWrVepG0dbbL8F4rqqrVepeea0xe9LqFf0xc9q8qqaq Fn0lXdHiVcFbIOFHK8Feea0dXdar=Jb9hs0dXdHuk9fr=xfr=xfrpe WZqaaeaaciWacmGadaGadiaabaGaaqaaaOqaaiaadkeaaaa@3618@

Note 1 à l’article: Cet article était numéroté 815-12-07 dans l’IEC 60050-815:2015.


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