Area |
![](/icons/ecblank.gif) |
Nuclear instrumentation: Physical phenomena, basic concepts, instruments, systems, equipment and detectors / Radiation detectors |
![](/icons/ecblank.gif) |
|
IEV ref |
![](/icons/ecblank.gif) |
395-03-42 |
![](/icons/ecblank.gif) |
|
en |
![](/icons/ecblank.gif) |
transmission semiconductor detector |
![](/icons/ecblank.gif) |
![](/icons/ecblank.gif) |
semiconductor detector whose thickness, including its entrance and exit windows, is sufficiently small to permit particles to pass completely through the detector
Note 1 to entry: This entry was numbered 394-28-08 in IEC 60050-394:2007. |
![](/icons/ecblank.gif) |
|
fr |
![](/icons/ecblank.gif) |
détecteur semiconducteur à transmission, m DÉCONSEILLÉ: semicteur à transmission, m |
![](/icons/ecblank.gif) |
![](/icons/ecblank.gif) |
détecteur semiconducteur dont l’épaisseur, y compris celle des fenêtres d’entrée et de sortie, est suffisamment petite pour permettre aux particules de le traverser complètement
Note 1 à l'article: Cet article était numéroté 394-28-08 dans la CEI 60050-394:2007. |
![](/icons/ecblank.gif) |
|
de |
![](/icons/ecblank.gif) |
Transmissions-Halbleiterdetektor, m |
|
es |
![](/icons/ecblank.gif) |
detector de semiconductor por transmisión, m |
|
it |
![](/icons/ecblank.gif) |
rivelatore a semiconduttore a trasmissione |
|
ko |
![](/icons/ecblank.gif) |
투과형 반도체 검출기 |
|
ja |
![](/icons/ecblank.gif) |
透過形半導体検出器 |
|
pl |
![](/icons/ecblank.gif) |
detektor półprzewodnikowy transmisyjny, m |
|
pt |
![](/icons/ecblank.gif) |
detetor semicondutor de transmissão |
|
zh |
![](/icons/ecblank.gif) |
透射式半导体探测器 |