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Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection / Materials for Surface Acoustic Wave (SAW) devices |
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| IEV ref |
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561-07-29 |
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en |
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secondary flat
SF |
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flat portion of a wafer perimeter shorter than the orientation flat
Figure 1 – Wafer sketch and measurement points
Note 1 to entry: When present, the SF indicates wafer polarity and can serve to distinguish different wafer cuts. |
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fr |
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plat secondaire, m
SF, m |
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partie plane du périmètre d’une plaquette plus courte que le plat d’orientation
Figure 1 – Croquis de plaquette et points de mesure
Note 1 à l’article: S’il est présent, le SF indique la polarité de la plaquette et peut permettre de distinguer les différentes découpes de plaquette. |
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ar |
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مسطح ثانوى
مسطح التوجيه الثانوى |
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de |
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Sekundärfläche, f |
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es |
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plano secundario |
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it |
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piano secondario
SF |
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ko |
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이차 평면
부 방향 평면 |
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ja |
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セカンダリフラット |
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pl |
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płaszczyzna wtórna, f
płaszczyzna orientacyjna podrzędna, f
SF |
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pt |
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plano secundário |
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zh |
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第二基准面
副基准面
SF |