Area |
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Lighting / Radiometric, photometric and colorimetric measurements: physical detectors |
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IEV ref |
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845-25-114 |
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en |
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sampling aperture |
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area of the reference plane on which measurements are made Note 1 to entry: The sampling aperture is delimited by the area illuminated, or by the area over which the receiver senses flux, whichever is smaller. If the illuminated area is the larger, the area measured is said to be "overfilled"; if it is the smaller, the area measured is said to be "underfilled". |
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fr |
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ouverture d'échantillonnage, f |
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aire du plan de référence sur laquelle sont effectués les mesurages Note 1 à l'article: L'ouverture d'échantillonnage est délimitée par l'aire éclairée, ou par l'aire sur laquelle le récepteur détecte le flux, selon l'aire la plus petite. Si l'aire éclairée est la plus grande, l'aire mesurée est considérée comme "surremplie"; si l'aire éclairée est la plus petite, l'aire mesurée est considérée comme "sous-remplie". |
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ar |
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فتحة التجريب |
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cs |
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clona pro vzorkování |
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de |
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Abtastöffnung, f |
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it |
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apertura di campionamento |
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ko |
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표본 개구 |
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ja |
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サンプリングアパーチャ |
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pl |
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płaszczyzna pomiarowa, f |
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pt |
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abertura de amostragem |
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zh |
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采样孔径 |